樣品名稱:半導體集成電路
檢測項目:動態(tài)參數(shù)測試
認可資質:其它
檢測標準:半導體器件 集成電路 第11部分:半導體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路) GB/T 12750-2006, IEC 60748-11:1990 7 表3 A2
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 半導體集成電路 動態(tài)參數(shù)測試 半導體器件 集成電路 第11部分:半導體集成電路分規(guī)范(不包括混合電路) GB/T 12750-2006, IEC 60748-11:1990 7 表3 A2