樣品名稱:集成電路
檢測(cè)項(xiàng)目:機(jī)械沖擊
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第10部分:機(jī)械沖擊》 IEC 60749-10:2002
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 集成電路 機(jī)械沖擊 《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第10部分:機(jī)械沖擊》 IEC 60749-10:2002