樣品名稱:光學(xué)和光學(xué)儀器
檢測項(xiàng)目:低溫
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分:低溫、高溫、濕熱 GB/T 12085.2-2010 4.2.2
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 光學(xué)和光學(xué)儀器 低溫 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分:低溫、高溫、濕熱 GB/T 12085.2-2010 4.2.2