樣品名稱:微電子器件
檢測(cè)項(xiàng)目:內(nèi)部氣氛分析
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):電子、電磁和機(jī)電元器件破壞性物理分析 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 MIL-STD-1580B-2014 GJB 4027A-2006 要求16 工作項(xiàng)目1101、1102、1000、1200
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 微電子器件 內(nèi)部氣氛分析 電子、電磁和機(jī)電元器件破壞性物理分析 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 MIL-STD-1580B-2014 GJB 4027A-2006 要求16 工作項(xiàng)目1101、1102、1000、1200