國(guó)家電子電器產(chǎn)品檢測(cè)中心
劉工
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樣品名稱(chēng):半導(dǎo)體分立器件(失效分析)
檢測(cè)項(xiàng)目:內(nèi)部檢查
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體分立器件失效分析方法和程序 GJB 3157-1998 3002方法
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體分立器件(失效分析) 內(nèi)部檢查 半導(dǎo)體分立器件失效分析方法和程序 GJB 3157-1998 3002方法