樣品名稱:發(fā)光二極管
檢測(cè)項(xiàng)目:K系數(shù)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):集成電路熱測(cè)量方法——電學(xué)測(cè)試法(單芯半導(dǎo)體器件) EIA/JESD 51-1:1995
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 發(fā)光二極管 K系數(shù) 集成電路熱測(cè)量方法——電學(xué)測(cè)試法(單芯半導(dǎo)體器件) EIA/JESD 51-1:1995