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通用電子元器件（破壞性物理分析）中外部目檢檢測(cè)

  • 樣品名稱(chēng)：通用電子元器件（破壞性物理分析）

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：外部目檢

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目0101~1401、1501~1601中2.2條 1402、1403中1.2條

  • 服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 通用電子元器件（破壞性物理分析） 外部目檢 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目0101~1401、1501~1601中2.2條 1402、1403中1.2條

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