樣品名稱:通用電子元器件(破壞性物理分析)
檢測(cè)項(xiàng)目:外部目檢
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):片式陶瓷電容器的DPA標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法 EIA-469:2017 4.1
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 通用電子元器件(破壞性物理分析) 外部目檢 片式陶瓷電容器的DPA標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法 EIA-469:2017 4.1