樣品名稱:通用電子元器件(破壞性物理分析)
檢測(cè)項(xiàng)目:X射線檢查
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目0105、0207、0601、0702、0901~1401、1501~1503中2.4條,0401、0801、0802中2.5條,1403中1.4條
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 通用電子元器件(破壞性物理分析) X射線檢查 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目0105、0207、0601、0702、0901~1401、1501~1503中2.4條,0401、0801、0802中2.5條,1403中1.4條