樣品名稱:通用電子元器件(破壞性物理分析)
檢測(cè)項(xiàng)目:粒子碰撞噪聲檢測(cè)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0106、0701中2.4條,0702、0901、0902、1003、1101、1102、1201~1301中2.5條
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 通用電子元器件(破壞性物理分析) 粒子碰撞噪聲檢測(cè) 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 0106、0701中2.4條,0702、0901、0902、1003、1101、1102、1201~1301中2.5條