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通用電子元器件（破壞性物理分析）中密封檢測

  • 樣品名稱：通用電子元器件（破壞性物理分析）

  • 檢測項目：密封

  • 認可資質(zhì)：其它

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 方法1071

  • 服務(wù)地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 通用電子元器件（破壞性物理分析） 密封 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 方法1071

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