樣品名稱:通用電子元器件(破壞性物理分析)
檢測項目:掃描電子顯微鏡檢查
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作項目0601-2.7、0902-2.8、1001-2.5、1002-2.10、1003-2.10、1101-2.9、1102-2.9、1103-2.7、1201-2.9、1202-2.9、
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 通用電子元器件(破壞性物理分析) 掃描電子顯微鏡檢查 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作項目0601-2.7、0902-2.8、1001-2.5、1002-2.10、1003-2.10、1101-2.9、1102-2.9、1103-2.7、1201-2.9、1202-2.9、