樣品名稱:通用電子元器件(破壞性物理分析)
檢測項目:掃描電子顯微鏡檢查
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項目0601中2.7條,0702、0902、1003、1101、1102、1201~1301中2.10條,1004、1103、1104中2.8條,1403中1.6條
服務(wù)地點:全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 通用電子元器件(破壞性物理分析) 掃描電子顯微鏡檢查 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項目0601中2.7條,0702、0902、1003、1101、1102、1201~1301中2.10條,1004、1103、1104中2.8條,1403中1.6條