樣品名稱:通用電子元器件(破壞性物理分析)
檢測(cè)項(xiàng)目:芯片粘接的超聲檢測(cè)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作項(xiàng)目1002-2.4、1103-2.4
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 通用電子元器件(破壞性物理分析) 芯片粘接的超聲檢測(cè) 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作項(xiàng)目1002-2.4、1103-2.4