樣品名稱:電子元器件及設(shè)備(物理性能)
檢測(cè)項(xiàng)目:外部目檢
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第3部分:外部目檢 GB/T4937.3-2012 第3部分
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件及設(shè)備(物理性能) 外部目檢 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第3部分:外部目檢 GB/T4937.3-2012 第3部分