樣品名稱:電子元器件及設(shè)備(物理性能)
檢測(cè)項(xiàng)目:掃描電子顯微鏡(SEM)檢查
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 方法2077
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件及設(shè)備(物理性能) 掃描電子顯微鏡(SEM)檢查 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128A-1997 方法2077