樣品名稱:電子元器件及設(shè)備(物理性能)
檢測(cè)項(xiàng)目:玻璃熔封蓋板的扭矩試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 方法2024
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件及設(shè)備(物理性能) 玻璃熔封蓋板的扭矩試驗(yàn) 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 方法2024