樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路(失效分析)
檢測(cè)項(xiàng)目:殼內(nèi)氣氛分析
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 5.3.10
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路(失效分析) 殼內(nèi)氣氛分析 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 5.3.10