樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路(數(shù)字集成電路)
檢測項目:延遲時間
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇第3節(jié) 4.2
服務(wù)地點:全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路(數(shù)字集成電路) 延遲時間 半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇第3節(jié) 4.2