樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路(模/數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)/模轉(zhuǎn)換器)
檢測項(xiàng)目:微分線性誤差溫度系數(shù)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):集成電路 A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.85.2.8
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路(模/數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)/模轉(zhuǎn)換器) 微分線性誤差溫度系數(shù) 集成電路 A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.85.2.8