樣品名稱:電子元器件及設(shè)備(氣候)
檢測(cè)項(xiàng)目:低溫試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn) GJB 150.4 -1986
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件及設(shè)備(氣候) 低溫試驗(yàn) 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn) GJB 150.4 -1986