樣品名稱:電子元器件及設(shè)備(氣候)
檢測(cè)項(xiàng)目:熱真空
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):地地彈道導(dǎo)彈控制系統(tǒng)環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分:熱真空試驗(yàn) QJ 20486.5-2016
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件及設(shè)備(氣候) 熱真空 地地彈道導(dǎo)彈控制系統(tǒng)環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分:熱真空試驗(yàn) QJ 20486.5-2016