樣品名稱:電子元器件及設(shè)備(壽命及可靠性)
檢測項目:老煉試驗
認可資質(zhì):其它
檢測標準:半導體器件環(huán)境試驗方法 第1部分:方法1000~1999 MIL-STD-750-1B:2022 方法1038.5、1039.4、1040
服務(wù)地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 電子元器件及設(shè)備(壽命及可靠性) 老煉試驗 半導體器件環(huán)境試驗方法 第1部分:方法1000~1999 MIL-STD-750-1B:2022 方法1038.5、1039.4、1040