樣品名稱:電子元器件
檢測(cè)項(xiàng)目:剪切強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-883JCHANGE1-2013 微電子測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件 剪切強(qiáng)度 微電子測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-883JCHANGE1-2013 微電子測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)