樣品名稱:電子元器件
檢測項(xiàng)目:擦寫耐久性和數(shù)據(jù)保持試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):AEC-Q100-005-REV-D1-2012 非易失性存儲器程序/擦除持久性,數(shù)據(jù)保留,和操作壽命測試
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件 擦寫耐久性和數(shù)據(jù)保持試驗(yàn) AEC-Q100-005-REV-D1-2012 非易失性存儲器程序/擦除持久性,數(shù)據(jù)保留,和操作壽命測試