樣品名稱(chēng):集成電路-高頻射頻識(shí)別芯片
檢測(cè)項(xiàng)目:常溫讀寫(xiě)+保存數(shù)據(jù)退化及只讀檢測(cè)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):T/CIE081—2020 工業(yè)級(jí)高可靠集成電路評(píng)價(jià) 第 16 部分: 高頻射頻識(shí)別
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 集成電路-高頻射頻識(shí)別芯片 常溫讀寫(xiě)+保存數(shù)據(jù)退化及只讀檢測(cè) T/CIE081—2020 工業(yè)級(jí)高可靠集成電路評(píng)價(jià) 第 16 部分: 高頻射頻識(shí)別