樣品名稱:混合集成電路(含多芯片組件)
檢測(cè)項(xiàng)目:鍵合強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作項(xiàng)目1102第2.8條
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 混合集成電路(含多芯片組件) 鍵合強(qiáng)度 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作項(xiàng)目1102第2.8條