樣品名稱:顯示器件/電子元器件/集成電路芯片
檢測(cè)項(xiàng)目:高溫試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 GB/T 2423.2-2008
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 顯示器件/電子元器件/集成電路芯片 高溫試驗(yàn) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫 GB/T 2423.2-2008