樣品名稱:集成電路-超高頻射頻識別芯片
檢測項目:靜態(tài)高溫長時間保存下數(shù)據(jù)退化檢測
認可資質(zhì):其它
檢測標準:工業(yè)級高可靠集成電路評價 第 15 部分: 超高頻射頻識別 T/CIE 080—2020 5.8.4
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 集成電路-超高頻射頻識別芯片 靜態(tài)高溫長時間保存下數(shù)據(jù)退化檢測 工業(yè)級高可靠集成電路評價 第 15 部分: 超高頻射頻識別 T/CIE 080—2020 5.8.4