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混合集成電路（含多芯片組件）中內(nèi)部目檢檢測

  • 樣品名稱：混合集成電路（含多芯片組件）

  • 檢測項目：內(nèi)部目檢

  • 認可資質(zhì)：其它

  • 檢測標準：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作項目1102 混合集成電路（含多芯片組件） 1102-2.7

  • 服務地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標簽： 混合集成電路（含多芯片組件） 內(nèi)部目檢 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作項目1102 混合集成電路（含多芯片組件） 1102-2.7

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