樣品名稱:人工智能芯片
檢測(cè)項(xiàng)目:功耗
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):人工智能芯片 面向端側(cè)的深度學(xué)習(xí)芯片測(cè)試指標(biāo)與測(cè)試方法 T/CESA 1121-2020 6.4.4
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 人工智能芯片 功耗 人工智能芯片 面向端側(cè)的深度學(xué)習(xí)芯片測(cè)試指標(biāo)與測(cè)試方法 T/CESA 1121-2020 6.4.4