樣品名稱:射頻識(shí)別標(biāo)簽(芯片)
檢測(cè)項(xiàng)目:負(fù)載調(diào)制
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):信息技術(shù)--系統(tǒng)間的通信和信息交換--近場(chǎng)通信接口和協(xié)議(NFCIP-1)--RF射頻接口測(cè)試方法 ISO/IEC 22536:2013 8.4
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 射頻識(shí)別標(biāo)簽(芯片) 負(fù)載調(diào)制 信息技術(shù)--系統(tǒng)間的通信和信息交換--近場(chǎng)通信接口和協(xié)議(NFCIP-1)--RF射頻接口測(cè)試方法 ISO/IEC 22536:2013 8.4