樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)
檢測(cè)項(xiàng)目:開(kāi)啟時(shí)間ton
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法 GB/T14028-2018 2.7
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān) 開(kāi)啟時(shí)間ton 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法 GB/T14028-2018 2.7