樣品名稱(chēng):半導(dǎo)體集成電路霍爾效應(yīng)數(shù)字開(kāi)關(guān)電路
檢測(cè)項(xiàng)目:輸出漏電流IOH
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇第二節(jié)第3條
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路霍爾效應(yīng)數(shù)字開(kāi)關(guān)電路 輸出漏電流IOH 半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇第二節(jié)第3條