樣品名稱:半導(dǎo)體光電耦合器
檢測(cè)項(xiàng)目:反向電流IR
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-3部分:光電子器件測(cè)試方法 GB/T15651.3-2003 4.1
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體光電耦合器 反向電流IR 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-3部分:光電子器件測(cè)試方法 GB/T15651.3-2003 4.1