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半導(dǎo)體集成電路TTL電路中輸出由高電平到高阻態(tài)傳輸延遲時間tPHZ檢測

  • 樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路TTL電路

  • 檢測項目：輸出由高電平到高阻態(tài)傳輸延遲時間tPHZ

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 3.8

  • 服務(wù)地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路TTL電路 輸出由高電平到高阻態(tài)傳輸延遲時間tPHZ 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 3.8

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