樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路
檢測項目:建立時間和保持時間
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 /第IV篇 第3節(jié) 4.3
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路 建立時間和保持時間 半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 /第IV篇 第3節(jié) 4.3