樣品名稱:電子半導(dǎo)體產(chǎn)品
檢測(cè)項(xiàng)目:高溫儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):高溫儲(chǔ)存壽命試驗(yàn) JEDEC JESD22-A103E.01-2021
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子半導(dǎo)體產(chǎn)品 高溫儲(chǔ)存壽命試驗(yàn) 高溫儲(chǔ)存壽命試驗(yàn) JEDEC JESD22-A103E.01-2021