樣品名稱:電子半導(dǎo)體產(chǎn)品
檢測(cè)項(xiàng)目:錫球剪切
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):集成電路的基于失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試驗(yàn)證 AEC-Q100-REV-H-2014 表2, 第C5項(xiàng)
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子半導(dǎo)體產(chǎn)品 錫球剪切 集成電路的基于失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試驗(yàn)證 AEC-Q100-REV-H-2014 表2, 第C5項(xiàng)