樣品名稱:電子半導(dǎo)體產(chǎn)品
檢測(cè)項(xiàng)目:板級(jí)跌落試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):手持式電子產(chǎn)品元器件板級(jí)跌落試驗(yàn)方法 JEDEC JESD22-B111A-2016
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子半導(dǎo)體產(chǎn)品 板級(jí)跌落試驗(yàn) 手持式電子產(chǎn)品元器件板級(jí)跌落試驗(yàn)方法 JEDEC JESD22-B111A-2016