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密封半導(dǎo)體集成電路中內(nèi)部目檢檢測(cè)

  • 樣品名稱(chēng)：密封半導(dǎo)體集成電路

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：內(nèi)部目檢

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：專(zhuān)用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 1101/2.7

  • 服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 密封半導(dǎo)體集成電路 內(nèi)部目檢 專(zhuān)用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027A-2006 1101/2.7

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