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半導體集成電路-CMOS電路中輸出由低電平到高電平傳輸延遲時間(tPLH)檢測

  • 樣品名稱：半導體集成電路-CMOS電路

  • 檢測項目：輸出由低電平到高電平傳輸延遲時間(tPLH)

  • 認可資質：其它

  • 檢測標準：半導體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第3節(jié) 方法4.1.2

  • 服務地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標簽： 半導體集成電路-CMOS電路 輸出由低電平到高電平傳輸延遲時間(tPLH) 半導體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第3節(jié) 方法4.1.2

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