樣品名稱:半導(dǎo)體器件
檢測(cè)項(xiàng)目:高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第6部分:高溫存儲(chǔ) IEC 60749-6:2017
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 高溫存儲(chǔ)試驗(yàn) 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第6部分:高溫存儲(chǔ) IEC 60749-6:2017