樣品名稱:半導(dǎo)體器件
檢測(cè)項(xiàng)目:高溫反偏試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 第9部分:分立器件 絕緣柵雙極晶體管(IGBTs) IEC 60747-9:2019 7.2.5.1
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 高溫反偏試驗(yàn) 半導(dǎo)體器件 第9部分:分立器件 絕緣柵雙極晶體管(IGBTs) IEC 60747-9:2019 7.2.5.1