樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路
檢測項(xiàng)目:X射線照相
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):合格制造廠認(rèn)證用半導(dǎo)體集成電路通用規(guī)范 GJB 7400-2011 附錄B 表B.1A,表B.1B
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路 X射線照相 合格制造廠認(rèn)證用半導(dǎo)體集成電路通用規(guī)范 GJB 7400-2011 附錄B 表B.1A,表B.1B