樣品名稱:半導(dǎo)體光電模塊
檢測(cè)項(xiàng)目:剪切強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目1202第2.11條
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體光電模塊 剪切強(qiáng)度 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目1202第2.11條