樣品名稱:半導(dǎo)體光電模塊
檢測(cè)項(xiàng)目:內(nèi)部氣體成份分析
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目1202第2.7條
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體光電模塊 內(nèi)部氣體成份分析 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作項(xiàng)目1202第2.7條