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密封半導(dǎo)體集成電路中X射線檢查檢測(cè)

  • 樣品名稱(chēng)：密封半導(dǎo)體集成電路

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：X射線檢查

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作項(xiàng)目1101第2.3條

  • 服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 密封半導(dǎo)體集成電路 X射線檢查 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作項(xiàng)目1101第2.3條

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