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半導體器件中結-殼熱阻和結-殼瞬態(tài)熱阻抗檢測

  • 樣品名稱：半導體器件

  • 檢測項目：結-殼熱阻和結-殼瞬態(tài)熱阻抗

  • 認可資質(zhì)：其它

  • 檢測標準：半導體器件 分立器件 第8部分: 場效應晶體管 GB/T 4586-1994/IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 6.3.20

  • 服務地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標簽： 半導體器件 結-殼熱阻和結-殼瞬態(tài)熱阻抗 半導體器件 分立器件 第8部分: 場效應晶體管 GB/T 4586-1994/IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 6.3.20

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