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半導體器件中溫度、偏置、壽命試驗檢測

  • 樣品名稱：半導體器件

  • 檢測項目：溫度、偏置、壽命試驗

  • 認可資質：其它

  • 檢測標準：半導體器件 分立器件 第9部分：絕緣柵雙極晶體管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 7.2.5.1

  • 服務地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標簽： 半導體器件 溫度、偏置、壽命試驗 半導體器件 分立器件 第9部分：絕緣柵雙極晶體管(IGBT) GB/T 29332-2012/IEC 60747-9 Ed. 2.0 :2007 7.2.5.1

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